E+H雷達(dá)料位計(jì)是非接觸式測(cè)量或TDR導(dǎo)波式測(cè)量，測(cè)量從參考點(diǎn)(即過(guò)程連接點(diǎn))到物料表面的間距，天線發(fā)出微波脈沖，在被測(cè)物料表面產(chǎn)生反射，并被雷達(dá)系統(tǒng)所接收。用于液體、漿料、泥漿和固體的連續(xù)、非接觸式物位測(cè)量。測(cè)量受介質(zhì)變換、溫度變化、氣體層或蒸汽的影響。
充分利用了微波具有很好穿透性、對(duì)惡劣環(huán)境及被測(cè)物料適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn)，采用世界上的大規(guī)模集成電路，將雷達(dá)原理、字信號(hào)處理技術(shù)和快速傅里葉變換(FFT)技術(shù)。采用連續(xù)式乍動(dòng)測(cè)量，能測(cè)量液體、固體(塊狀、粉狀)料位，具有測(cè)距遠(yuǎn)、精度高等特點(diǎn)。
雷達(dá)采用發(fā)射反射接收的工作模式，天線發(fā)射出電磁波經(jīng)被測(cè)對(duì)象表面反射后，再被天線接收，整個(gè)過(guò)程是“發(fā)射—反射—接收”的工作模式，電磁波從發(fā)射到接收的時(shí)間與到液面的距離成正比。E+H雷達(dá)料位計(jì)測(cè)量時(shí)發(fā)出的電磁波能夠穿過(guò)真空，需要傳輸媒介，具備受大氣、蒸氣、槽內(nèi)揮發(fā)霧影響的特點(diǎn)，能用于揮發(fā)的介質(zhì)，例如粗苯的液位測(cè)量。
E+H雷達(dá)料位計(jì)的性能：
1、兩線制技術(shù),經(jīng)濟(jì)型；
2、非接觸測(cè)量：受介質(zhì)特性的影響；
3、通過(guò)文顯示菜單輕松進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)操作；
4、通過(guò)操作軟件實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便的組態(tài)、文件編制及診斷；
5、具備2個(gè)頻率范圍-約6GHz及26GHz：無(wú)干擾，適用于任何應(yīng)用場(chǎng)合；
6、HART或PROFIBUS-PA通信協(xié)議及基金會(huì)現(xiàn)場(chǎng)總線協(xié)議；
7、高溫：適用于高達(dá)+200℃（392℉）的過(guò)程溫度，當(dāng)采用高溫天線時(shí)可達(dá)+400℃（752℉）；
8、帶有屏蔽管的桿式天線：可在狹窄的加接管及有冷凝和粘附的加接管內(nèi)可靠測(cè)量。
更新時(shí)間：2020-04-24 
瀏覽次數(shù)：4427
我的位置：